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整理番号 2671   (公開日 2005年02月28日) (カテゴリ 素材機械エレクトロニクス
極低温条件下における物理量の精密測定技術の展開
●内容 この研究室では、極低温条件下(T ≥ 50µK)における物質の熱・磁気・電気的な性質を精密に測定する技術に関して研究を進めている。この研究室で開発した世界初の超低温用走査トンネル顕微鏡(表面走査プローブ法)を用いることにより、多重極限環境下(T ≥ 20mK、B ≤ 6T、P < 1×10-8 Pa)で原子スケール の位置分解能をもってこれらの精密測定が可能となった。また、この装置は試料交換が容易(4時間以内)である等、実用面での特長も有する。これら、この研究室が持つ極低温および多重極限環境下での計測技術をもとに、例えば磁性・半導体材料や超伝導およびナノ構造などの電子材料の諸特性を測定することや、新しい計測・分析装置を開発することに関して企業との共同研究を希望している。
●研究者
教授 福山 寛
大学院理学系研究科 物理学専攻
低温センター
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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