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整理番号 3318   (公開日 2006年06月01日) (カテゴリ 素材機械エレクトロニクス
マイクロ・ナノエレクトロニクスに関する観察・測定技術のコンサルティング
●内容 この研究室では、以下のようなマイクロ・ナノエレクトロニクス分野における観察・測定に関する研究開発を行っている。
1.走査プローブ顕微鏡(SPM)と光の複合的利用
  光誘起電流測定、光起電力マッピング
2.走査トンネル分光法(STS)
  低次元系半導体材料中の新しい物理現象の観察
3.新しい走査プローブ顕微鏡(SPM)手法の開発
  画像獲得の高速化、性能向上のための新しい動作原理の提案
4.導電性/磁性探針を用いた原子間力顕微鏡(AFM)
  形状と電流の同時測定、ケルビンプローブフォース顕微鏡(KFM)による表面
  電位の測定、磁気力顕微鏡(MFM)を利用した微小電流計測
これらに関し、主として観察・測定を行うサービス会社へのコンサルティングが可能である。
●研究者
教授 高橋 琢二
生産技術研究所 附属マイクロメカトロニクス国際研究センター
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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