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整理番号 3472   (公開日 2006年09月07日) (カテゴリ 素材機械エレクトロニクス
AFMの力センサーの研究
●内容 この研究室ではナノサイエンス・ナノテクノロジーの基幹分析手法であるAFM(原子間力顕微鏡)を用いて、物質表面上の極微な構造・局所領域の物性評価を進めている。このための新しいAFM装置や力センサーの開発にも取り組んでおり、シリコン・カンチレバー上に金属探針を取り付けた力センサーを開発し、特にケルビンプローブ法に適応して、高空間分解能での原子像およびポテンシャル分布像観察を実現している。また水晶振動子を用いた力センサーの開発も行い、複雑な光学調整を不要とする低温域での高空間分解能AFMイメージングを実現している。これらの研究に興味ある企業や団体と共同研究を行なう用意がある
●研究者
准教授 長谷川 幸雄
物性研究所 ナノスケール物性研究部門
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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