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整理番号 3556   (公開日 2006年11月02日) (カテゴリ 環境・エネルギー素材エレクトロニクス
ナノスケールの構造解析
〜走査型透過型電子顕微鏡(STEM)による解析〜
●内容 この研究室では、最新の走査透過型電子顕微鏡法(STEM)を用いて、種々のナノマテリアルの局所的な原子構造や電子状態を解明する研究に取り組んでいる。半導体・金属・セラミックスなどの無機試料の微小領域での構造解析とその分析を通じて、さまざまな物性とその極微細な構造との相関関係を解明することが可能である。ナノスケールの構造解析手段として有用な電子顕微鏡解析に関し、前処理条件をはじめとするさまざまな知見・ノウハウを蓄積してきているので、このような解析に関するニーズを有する企業などとの共同研究が可能である。
●研究者
教授 阿部 英司
大学院工学系研究科 マテリアル工学専攻
●画像


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図1 環状暗視野走査透過型電子顕微鏡法の模式図
原子番号Zの違いが顕著に強調したコントラストを呈するため、Zが十分に離れていれば物質母相中の「1個」の原子位置を可視化できる。
(C) 阿部英司
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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