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整理番号 3598   (公開日 2007年01月19日) (カテゴリ 素材情報・通信エレクトロニクス
ナノスケールの物性・構造計測に関するシミュレーション
●内容 原子レベルからのシミュレーションによってマテリアルの物性や構造を予測し、マテリアル物性計測の実験データから信頼性高く対象の情報を引き出すこと、および新材料設計の指針を得ることを目指している。具体的には、‥迭Αε杜に関連した諸現象(ナノ構造の伝導度、静電容量、原子スイッチ動作機構等)の理論解析と方法論開発、∩査プローブ顕微鏡像のシミュレーション、A査プローブ顕微鏡を応用した物性計測(局所仕事関数計測、ケルビン力顕微鏡等)のシミュレーションなどが最近の主要テーマである。
これらに関し広く情報交流をしていきたい。
●研究者
教授 渡邉 聡
大学院工学系研究科 マテリアル工学専攻
●画像


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図1:仮想的なモデル物質表面に1次元探針から入射した電子の分布のシミュレーション結果(1)。
赤矢印のように入射した電子は、通常このように等方的に広がる。
(C) 東京大学 計算材料学研究室

図2:仮想的なモデル物質表面に1次元探針から入射した電子の分布のシミュレーション結果(2)。
特定の入射エネルギーにおいては、この図のように通常と顕著に異なる広がり方となることが予測された。
(C) 東京大学 計算材料学研究室
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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