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整理番号 3836   (公開日 2007年03月23日) (カテゴリ 素材エレクトロニクス
シンクロトロン放射X線を用いたX線光子相関法による分子レベルゆらぎ構造
●内容 この研究室では、シンクロトロン放射光を用いた新しいX線計測法の研究を行っている。可視光(波長200〜800nm)を用いた動的光散乱法による粒子径の測定法は既に確立された技術である。すなわち、溶液中の粒子のブラウン運動による散乱光の変化を測定し、自己相関関数から散乱光の揺らぎ、つまり粒子の大きさに見合った揺らぎを検出して粒子の大きさを算出する方法である。
この考え方を、波長が0.1〜1nmレンジのX領域に拡張し、X線光子相関法によってより微細な分子レベルでのゆらぎ構造の解明などに使える計測技術の研究開発を進めている。このような研究に関心を持つ企業などとの共同研究を行う用意がある。
●研究者
特任教授 雨宮 慶幸
大学院新領域創成科学研究科 物質系専攻
大学院工学系研究科 物理工学専攻
●画像


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X線光子相関法の実験配置、スペックル散乱像と散乱強度揺らぎ
ピンホールを用いてコヒーレントなX線マイクロビームを生成し、スペックル散乱像の時間揺らぎを測定する。
(C) 雨宮慶幸
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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