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整理番号 3881   (公開日 2007年03月23日) (カテゴリ エレクトロニクス
セラミックスの高電圧スクリーニング
●内容 この研究室では、セラミックスシートの脆弱部材を、高電圧を掛けることによりスクリーニング(弱いものを予め取り除く)する方法についての研究を行い、基礎的なデータを有している。この方法は、絶縁性を有するセラミックスシートへの応用に適し、X線による欠陥検出法や、超音波探傷法などに比べ簡便であるとの特長を有する。この方法の実用化に向けて、企業等と共同研究を行いたい。
●研究者
助教 中村 吉伸
大学院工学系研究科 先端学際工学専攻
大学院新領域創成科学研究科 物質系専攻
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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