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整理番号 7324   (公開日 2017年06月22日) (カテゴリ 素材エレクトロニクス基礎科学
走査型プローブ顕微鏡による表面原子、有機分子の超高解像イメージング
●内容 材料工学、触媒化学、半導体工学など様々な分野において、物質の性質を単原子分子レベルで理解することが必要とされる時代になっている。例えば、触媒では、表面のどのサイトに分子が吸着し、どのように化学反応が進行するのかを調べることが重要である。そこで、物質の局所的な情報を得る計測技術の開発が期待されている。我々は絶縁体でも個々の原子を観察できる超高真空原子間力顕微鏡(AFM)を有している。この装置によって、様々な表面を原子スケールで観察したり、表面の上に吸着した有機分子を超高解像にイメージングしたりすることができる。それを応用することで、未知の有機分子の構造を同定することも可能である。この手法は、個々の有機分子の構造同定であるため、結晶化できない有機分子の構造を同定することなどへ応用することができる。
●研究者
准教授 杉本 宜昭
大学院新領域創成科学研究科 物質系専攻
●画像


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AFMによる単一有機分子の高分解能像。有機分子内の炭素骨格を可視化することができる。
(C) 杉本宜昭
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上記内容は、各研究者へのインタビューをもとに東京大学 産学協創推進本部で骨子をまとめたものです。
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