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マイクロ・ナノエレクトロニクスに関する観察・測定技術のコンサルティング
高橋 琢二生産技術研究所 情報・エレクトロニクス系部門
この研究室では、以下のようなマイクロ・ナノエレクトロニクス分野における観察・測定に関する研究開発を行っている。 １．走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）と光の複合的利用 光誘起電流測定、光起電力マッピング ２．走査トンネル分光法（ＳＴＳ） 低次元系半導体材料中の新しい物理現象の観察 ３．新しい走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）手法の開発 画像獲得の高速化、性能向上のための新しい動作原理の提案 ４．導電性／磁性探針を用いた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ） 形状と電流の同時測定、ケルビンプローブフォース顕微鏡（ＫＦＭ）による表面 電位の測定、磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）を利用した微小電流計測
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マイクロ・ナノエレクトロニクスに関する観察・測定技術のコンサルティング
高橋 琢二生産技術研究所 情報・エレクトロニクス系部門
この研究室では、以下のようなマイクロ・ナノエレクトロニクス分野における観察・測定に関する研究開発を行っている。 １．走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）と光の複合的利用 光誘起電流測定、光起電力マッピング ２．走査トンネル分光法（ＳＴＳ） 低次元系半導体材料中の新しい物理現象の観察 ３．新しい走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）手法の開発 画像獲得の高速化、性能向上のための新しい動作原理の提案 ４．導電性／磁性探針を用いた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ） 形状と電流の同時測定、ケルビンプローブフォース顕微鏡（ＫＦＭ）による表面 電位の測定、磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）を利用した微小電流計測
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