高分解能走査透過電子顕微鏡法による原子・電子構造解析
カテゴリー
- 素材
- エレクトロニクス
SDGs
研究内容
この研究室では、最先端の高分解能分析電子顕微鏡法、収差補正走査透過電子顕微鏡法や ナノプローブ分析電子顕微鏡法などを駆使して、構造および機能セラミックスをはじめとする各種先端材料に関する原子および電子レベルでの構造解析技術を確立している。また、これらの構造解析データと粒界・界面での原子配列についての理論計算を併用することによって、新しい材料機能創出のための設計指針を得ている。
原子直視型電子顕微鏡による原子構造解析
Ｚコントラストを観察することにより、結晶中の原子を識別して観察することが可能となる。
© 幾原 雄一
セラミックス粒界における偏析元素の走査透過電子顕微鏡（STEM) Z－コントラスト像
Ｚコントラストを観察することにより、粒界や界面に偏析した不純物原子が観察できる。
© 幾原 雄一
連携への希望
これらの手法による構造解析のサポートを行うとともに、実用面への展開を共同で推進して行きたいと考えている。
公開日 / 更新日
- 2021年11月30日
識別番号
- No. 00074-03