東京大学産学連携プロポーザル

研究内容

この研究室では、以下のようなマイクロ・ナノエレクトロニクス分野における観察・測定に関する研究開発を行っている。
１．走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）と光の複合的利用
　　光誘起電流測定、光起電力マッピング
２．走査トンネル分光法（ＳＴＳ）
　　低次元系半導体材料中の新しい物理現象の観察
３．新しい走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）手法の開発
　　画像獲得の高速化、性能向上のための新しい動作原理の提案
４．導電性／磁性探針を用いた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）
　　形状と電流の同時測定、ケルビンプローブフォース顕微鏡（ＫＦＭ）による表面
　　電位の測定、磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）を利用した微小電流計測

連携への希望

上記に関し、主として観察・測定を行うサービス会社へのコンサルティングが可能である。

公開日 / 更新日

• 2021年12月21日

識別番号

• No. 00085-03